主题：可靠性增长试验RGT(reliability growth test)

依据GJB450A《装备可靠性工作通用要求》分类，可靠性试验可以分为环境应力筛选、可靠性研制试验、可靠性增长试验、可靠性鉴定试验、可靠性验收试验、寿命试验。

可靠性增长试验RGT（reliability growth test）

职责目的：暴露潜在缺陷并采取纠正措施，逐步使产品的可靠性达到规定的要求。
适用对象：电子产品、电气、机电、光电和电化学产品和机械产品。
适用时机：产品的研制阶段中期，产品的技术状态大部分已经确定。
 
可靠性增长试验，是通过对产品施加真实的或模拟的综合环境应力，暴露产品的潜在缺陷并采取纠正措施，使产品的可靠性达到预定要求的一种实验。它是一个有计划的试验——分析——改进（TAAF）的过程，其试验目的在于对暴露出的问题采取有效的纠正措施，从而达到预定的可靠性增长目标。  

产品的固有可靠性是由设计确定并通过制造实现的。由于产品复杂性的不断增加和新材料、新工艺、新技术的广泛应用，产品设计需要有一个不断认识、不断改进、完善的过程。样机在试验或运行当中，不断暴露出薄弱环节，再不断纠正、改进，从而提高产品的可靠性水平，逐步达到可靠性目标值。
 
理想的可靠性增长过程： 
 
第一阶段：研制阶段。第一台样机研制出来时，由于存在设计缺陷等系统性薄弱环节，初始的平均故障间隔时间(MTBF)较低(A 点)。在可靠性增长研制试验以及其他试验中，不断地暴露出系统性失效，通过分析，有针对性地采取纠正措施，进行设计更改，一直到研制阶段结束，可靠性在不断增长，达到B 点。  

第二阶段：试生产阶段。由于设计阶段样机数量较少，设计缺陷很难充分暴露出来，特别是批次性的元器件缺陷不能充分暴露出来；设计阶段元器件由设计人员掌握，设计更改、元器件更换随意性较大，往往会掩盖设计方面的不足和元器件方面的缺陷；样机的应力筛选试验很充分，而生产阶段的产品不可能有如此长的环境应力筛选周期。所以，在试生产开始的时候，使产品的可靠性低于样品研制结束时的可靠性，从B 点下降到C 点。在试生产过程中，通过继续采用纠正、改进措施，可靠性将不断增长，达到D 点。  

第三阶段：批生产和使用阶段。在批生产开始的时候，由于工艺缺陷、装配缺陷以及质量控制问题，可能使批生产产品的可靠性水平从D 点下降到E 点。随着关键问题的不断解决，各种工艺缺陷、装配缺陷得到纠正，可靠性将继续增长，达到规定的MTBF 。由以上可知，实现可靠性增长是反复设计、反复纠正的结果。随着设计的成熟，研究确定实际存在(通过试验)的或潜在(通过分析)的故障源，进一步的设计工作应当放在改正这些问题上。从理论上讲，产品寿命期的各个阶段都可以实现可靠性增长，但是对于各阶段所进行的可靠性增长，在经济性和及时性方面又都各不相同。
 
可靠性增长试验方案： 

可靠性增长试验前必须制订产品的可靠性增长试验方案。  

试验方案应着重说明如何进行性能监控、故障检测、失效分析，并特别强调防止故障再现的设计更改及其验证。为了达到既定的增长目标，并对最终可靠性水平作出合理的评估，要求试验前先评估出产品可能的初始可靠性水平；确定合理的增长率；选用恰当的跟踪和评估模型；试验中应对产品施加由产品寿命周期内的任务剖面转换得来的综合环境应力或实际的使用环境应力；对试验前的准备工作情况及试验结果要进行评审。  

产品可靠性增长试验前，应完成并通过环境适应性试验。可靠性增长试验一般只适用于有定量可靠性要求，且增长试验所需的时间和经费可以接受，现有的实验室能够提供其要求的综合环境条件的关键、主要的产品。当需用成功的可靠性增长试验代替可靠性鉴定试验时，该方案事先必须得到订购方的认可。
 
产品开发和生产过程中都应促进自身的可靠性增长。预期的增长应表现在各开发阶段和生产过程中都有相应的增长目标值。因此，应制定一个完整的可靠性增长计划，计划应包括对产品开发增长的计划曲线。增长计划曲线的制定主要应根据同类产品预计过程中所得的数据，通过分析以便确定可靠性增长试验的时间，并且使用监测试验过程的方法对增长计划进行管理  
 
依据标准：
  
GB/T15174-1994  
GJB1407  
IEC61014等。